本文標題："金屬導電性質-隨厚度增加，導電區域數目增加"

掃瞄探針顯微技術是觀測奈米等級材料的重要技術，其中原子力顯微鏡及其衍生技術應用廣，

其量測方式為以探針在極接近樣品表面時，進行樣品表面掃瞄及局部物性量測。藉由導電原子力顯微鏡

量測不同型態的聚苯胺膜在探針接觸且同時施加電壓下的表面型態、導電區域及導電特性。

EB 態與 ES 態之聚苯胺膜表面型態類似，但從 HCl(aq)、HClO4(aq)中制備而得之聚苯胺膜為圓盤狀堆疊，而由

H2SO4(aq)中制得為鏈狀堆積，但表面型態不受膜厚度及摻雜酸種類影響。

由 CAFM 的數據得知所有聚苯胺膜的導電度都不均勻，整塊膜可視為導電（絕緣）島嶼散佈在絕緣（導電）海中且隨聚苯胺膜的摻雜

度、厚度、與摻雜子的不同而變化：隨摻雜程度增加，其導電區域從孤立小島演變成密集分佈連結的島嶼，

而 I-V 曲線也顯示其由半導體

性質演變成具有金屬導電性質；隨厚度增加，導電區域數目增加，

后連結成大板塊，且 I-V 曲線也由半導體變成具類金屬的導電特性；

在 HClO4（aq）中制得之聚苯胺膜（<120 nm），分子鏈的共軛程度短，

因此用 HCl、H2SO4、與 HClO4 摻雜后的導電度類似且皆為半導體，由

H2SO4(aq)、與 HCl(aq)聚合而得之聚苯胺薄膜分子鏈的共軛程度類似，且

皆以 HClO4 摻雜后的導電度高，并呈現金屬導體特性

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