本文標題："掃描顯微鏡有切片顯微鏡同樣觀察效果并有更高解析度"
發布者：yiyi ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2013-4-8 5:36:40
光電子顯微術
材料科學應用,磁性記憶材料分析研究
具有次微米的空間解析能力(0.2微米)，并能于提供影像的同時給于微區域的X-光吸收能譜。
藉由其在材料的電子結構與表面化學顯微的分析能力，
符合了國內學術界及工業界對次微米級材料與結構研究的需求。
由于結合同步輻射光源的波長連續可調性以及橢圓偏振聚頻磁鐵所提供的光子偏振控制，
使得許多無法利用傳統顯微方法進行研究之實驗可以藉由光電子顯微儀而得到有效的分析。
這是因為光電子顯微儀具有比電子顯微儀較低的破壞性以及能從事定點化學能譜分析，所以能近乎非破壞
性的分析樣品材質成份及其化學能態。因此在超大型積體電路元件、高分子表面催化反應、及多
層磁性薄膜等研究上有極大的應用前途。
由于雷射掃描共焦顯微鏡具有非破壞性的光學切片能力，同時能重
建立體的三維空間影像，使空間的解析率提高，加上即時的快速成像能
力，使得其成為探測奧妙的生物世界極佳工具（Stephen, 1999）。同時
LSCM 也可廣泛的適用于光電材料或是晶片的檢測。由于雷射掃描共焦
顯微術之螢光影像必須在樣品有自發或染料具染色螢光，且螢光信號對
背景雜訊比要高，才能得到高品質的螢光影像。
因此使用 LSCM 時，使用者所需面對的另一課題在于：如何尋找適當的樣品染劑，加以配合
螢光激發的波長和合適的光學濾波片，以及雷射特性的調整和系統的校
正，以獲得佳的影像資訊。
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