本文標(biāo)題："了解牛頓環(huán)測(cè)透鏡的曲率半徑的運(yùn)用讀數(shù)顯微鏡實(shí)驗(yàn)"

發(fā)布者：MISS-GU ------ 分類(lèi): 技術(shù)文章 ------ 人瀏覽過(guò) -----時(shí)間：2016-7-8 11:58:3

了解牛頓環(huán)測(cè)透鏡的曲率半徑的運(yùn)用讀數(shù)顯微鏡實(shí)驗(yàn)

   對(duì)于光的干涉的認(rèn)識(shí)，我們都知道其實(shí)那就是光的一
種波動(dòng)性，如果是在相同點(diǎn)的光源中，可以將其發(fā)出的
光分成兩束，

   這樣的話(huà)，當(dāng)它們經(jīng)過(guò)了不同的路徑之后，就會(huì)重新
結(jié)合到一起，出現(xiàn)干涉現(xiàn)象的時(shí)候，大都是因?yàn)楣獬痰?br />差小于光源中所給藥的相干長(zhǎng)度，

   一般情況下，如今在科學(xué)研究和工藝技術(shù)中，這種干
涉現(xiàn)象有著非常廣泛的作用，特別是在光波的測(cè)量中，
還有進(jìn)行精確厚度和長(zhǎng)度測(cè)量的時(shí)候，

   還有在機(jī)械制造方面也是需要的，如零件表面的光潔
度，以及對(duì)零件內(nèi)應(yīng)力的分布情況，在半導(dǎo)體的技術(shù)中，
如果對(duì)硅片中進(jìn)行氧化層厚度測(cè)量的時(shí)候，也是需
要光的干涉現(xiàn)象，

   不過(guò)，這樣的實(shí)驗(yàn)需要讀數(shù)顯微鏡和牛頓環(huán)的儀器的
裝置進(jìn)行配合，這里所需要的光源是鈉光光源。
  

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