本文標(biāo)題："數(shù)據(jù)儀器檢測(cè)污染對(duì)金屬封裝晶體管內(nèi)氣體環(huán)境影響"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 站內(nèi)動(dòng)態(tài) ------ 人瀏覽過(guò) -----時(shí)間：2015-10-8 10:24:15

數(shù)據(jù)儀器檢測(cè)污染對(duì)金屬封裝晶體管內(nèi)氣體環(huán)境影響

      儀器的基底一般是由水蒸氣,軾.氮、二氧化碳和共同的氣體
所組成，這就必然換害儀器的靈敏度。含氧大于10%的試樣通過(guò)
氧化作用擊穿探測(cè)器，使水燕氣優(yōu)先吸附在質(zhì)講儀的內(nèi)壁，因而在
系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生了持久的基底壓力。
      應(yīng)用實(shí)例氣體質(zhì)譜儀首先用于金屬封裝晶體管內(nèi)氣體環(huán)境
特性的分析。金屬封裝容認(rèn)小(通常在1 IAA米a下)，只有少址氣體
能作分析。以器件為試樣，放在有針孔眼的真空夾具內(nèi)，在真空下
打開(kāi)器件，然后將來(lái)自密封裝TL的氣休向試樣室擴(kuò)大。在不同期
間，器件障礙與過(guò)多的氫、碳x化合物以及水蒸氣都有關(guān)系，有時(shí)
出現(xiàn)不明顯的雜質(zhì)，例如有機(jī)殘?jiān)驔](méi)有完全清洗的電鍍零件。如
果氣體本身污染了，或者是品體管內(nèi)其它污源間接引起了污染，則
必須連同其它已知數(shù)據(jù)檢測(cè)氣體的污染。

后一篇文章：氣體色層譜儀可作物理性能檢測(cè)器分析工具 »
前一篇文章：« 質(zhì)譜儀的靈敏度跟隨離子種類進(jìn)行定量分析

tags:數(shù)碼顯微鏡,偏光顯微鏡,光學(xué)顯微鏡,光學(xué),生物顯微鏡,精密儀器,

數(shù)據(jù)儀器檢測(cè)污染對(duì)金屬封裝晶體管內(nèi)氣體環(huán)境影響,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁(yè)地址：http://www.threebear.com.cn/wz/2171.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：http://www.threebear.com.cn/
http://www.xianweijing.org/