本文標題：" 分析在干涉顯微鏡術中采用哪些比較特殊的裝置"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 技術文章 ------ 人瀏覽過 -----時間：2014-11-28 16:46:59

 分析在干涉顯微鏡術中采用哪些比較特殊的裝置

干涉顯微鏡術主要就是在顯微鏡光學系統(tǒng)中添置了一些比較特殊的光學裝置。

干涉顯微鏡一般被分至成兩種光束、第一種光束主要用來經(jīng)過物鏡、然后在

樣件上面反射回來、之后再通過光束分離器進入目鏡。第二種光束是從第一

種光束中的比較板慢慢的進入目鏡內(nèi)、如果這兩種反射光在經(jīng)過光束分離器

上面時而產(chǎn)生干涉的現(xiàn)象、則需要利用干涉條紋的形狀來辨別微微浮出的空

間的形狀、由此可以根據(jù)條紋位移量跟相靠近的條紋之間的比例，測量出浮

出的高度。多光束干涉的發(fā)展不僅使干涉條紋更加窄銳、而且還大大的提高

了測量高的及差的靈敏度。

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